WBE-LR3-49L / グループ温度ショックチャンバー
グループ化された温度ショックチャンバー: スプリットデザインにより、狭いテストドアから簡単にアクセスできます。試験システムは、高温ゾーン、低温ゾーン、テストゾーンの3つのセクションに分かれています。独自の断熱構造と蓄熱・冷蔵を利用したチャンバーは、高温と低温の気流切り替えを利用して、試験サンプルを動かすことなく、熱衝撃試験のために試験サンプルに熱を導入します。
グループ化された温度衝撃試験室は分割設計を特徴としており、作業室と作業室は独立したモジュールとして設計されており、カスタマイズが可能です。独立したスロットの気流切り替えにより、低温および高温スロットからの熱風と冷風、および室温の空気を試験チャンバーに導入できます。これにより、試験中に試験片を動かすことなく、低温環境と高温環境間の迅速な移行が可能になります。
応用分野:
半導体チップ、科学研究機関、品質検査、新エネルギー、光電子通信、航空宇宙軍事産業、自動車産業、LCDディスプレイ、医療、その他の技術産業。
試験基準:
GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、JESD22-A106B、MIL-STD-810G、MIL-STD-202G
製品の特徴:
1. スプリットボディ設計により、エレベーターや出入り口に制限されず、柔軟な移動が可能です。
2.3チャンバーショック方式、蓄熱ショック方式で、ダンパーの開閉によって温度変換を制御します。
3. 試験片は静止したままで、機械的衝撃がなく、電源投入やケーブルの取り付けなどの試験に便利です。
4.温度衝撃モード:高温→室温→低温。低温→室温→高温。低温→高温;室温暴露試験も可能です。
5. カスタマイズ可能な衝撃モードには、試験要件とサンプルサイズに基づいた 2 チャンバー (バスケット)、水平移動、浸漬衝撃法が含まれます。
6. 温度サイクル、熱衝撃、熱応力スクリーニング、性能試験などの信頼性試験に対応。
7. 電子膨張弁技術を採用し、45%以上の省エネを実現。
