WBE高温および低温熱衝撃チャンバー(2チャンバータイプ): 分割設計が特徴のチャンバーシステムの作業セクションと作業セクションは独立したモジュールとして設計されており、カスタマイズが可能です。試験システムは、高温タンク(予熱ゾーン)と低温タンク(予冷ゾーン)に分かれています。急速熱衝撃試験は、低温タンクと高温タンクの間を素早く移動するように移動バスケット(試験サンプル配置エリア)を制御することによって実現されます。これは、完全な製品、コンポーネント、部品、および材料が急激な温度変動に耐える能力を評価するのに適しています。
製品説明:
高温・低温衝撃試験室(スプリットタイプ)は、チャンバーシステムの作業室と作業室が独立したモジュールとして設計されている分割設計を特徴としており、カスタマイズが可能です。試験システムは、高温タンク(予熱ゾーン)と低温タンク(予冷ゾーン)に分かれています。迅速な熱衝撃試験は、移動式バスケット(試験サンプル配置エリア)を制御して、低温または高温のタンクに素早く移動させることで実現されます。
アプリケーション：
半導体チップ、科学研究機関、品質検査、新エネルギー、光電子通信、航空宇宙および軍事産業、自動車産業、LCDディスプレイ、医療およびその他の技術産業。
試験基準:
GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、JESD22-A106B、MIL-STD-810G、MIL-STD-202G
製品の特徴:
1. スプリットボディ設計により、エレベーターや出入り口に制限されず、柔軟な移動が可能です。
2. 2ゾーン熱衝撃試験方法:試験片はバスケット内で上下に動き、熱衝撃試験を行うため、熱衝撃時の熱負荷が最小限に抑えられ、温度回復時間が短縮されます。
3. 霜取りなしで 1000 回の連続熱衝撃サイクルが可能で、超低霜取り周波数により待ち時間が短縮され、試験効率が大幅に向上します。
4. 電子膨張弁技術と革新的な制御システムを利用して、この製品は 45% を超える省エネを達成し、寿命を 3 分の 1 以上延ばします。
5.熱衝撃機構は5秒以内に動き、MIL、IEC、JIS規格に準拠しています。
6.高度に専門化された設計により、試験要件とサンプルサイズに応じて、水平バスケット移動、3チャンバー(換気)、および浸漬衝撃モードを備えた熱衝撃試験室をカスタマイズできます。
7.温度サイクル、熱衝撃試験、熱ストレス試験、および性能試験と互換性があります。
